• 規(guī)格：Belec Compact Port
• 品牌：德國貝萊克
• 用途：金屬材料成分分析

Belec Compact Port移動式光譜儀是針對在工業(yè)現(xiàn)場對金屬材料進行快速鑒定和分析而設(shè)計的?？蓽蚀_測定鋼鐵中的C、P、S。

Belec Compact Port便攜式直讀光譜儀是同類產(chǎn)品中體型小、重量輕、功能強大的光譜儀，重量只有17公斤，可配合專用的手推車，可同時放置氬氣瓶，放便移動設(shè)備及適合在現(xiàn)場工作；Belec Compact Port帶觸摸屏的計算機系統(tǒng)，以TFT格式顯示數(shù)據(jù)，具有的對比度和大視角平面顯示屏，使分析數(shù)據(jù)易于讀出，讓操作員在現(xiàn)場操作特別方便，通過Belec自行設(shè)計的WIN21軟件，操作簡易，對操作員本身的要求不高。為了擴展數(shù)據(jù)輸入，可以輸入試樣的詳細說明或材料牌號，也可以使用全尺寸鍵盤或者連接鼠標。Belec Compact Port可選擇配置兩個光譜室以至可以分析多達36種不同元素。

Belec Compact Port貝萊克光譜儀是火花發(fā)射光譜儀，快速金屬分析。固定式和移動式光譜儀分別是火花臺和火花槍，都帶有電極，火花發(fā)生器在電極與分析的樣品之間產(chǎn)生放電。在這個過程中，測試樣品的材料轉(zhuǎn)換成氣態(tài)，材料元素的原子轉(zhuǎn)換成一個更高能量的狀態(tài)，當回到正常狀態(tài)時，它們發(fā)射不同元素波長的光…

光直接進入（固定式）或者通過光纖（移動式）到達光譜室入口，在光譜室的入口，有一個很窄的狹縫，僅僅20 μm (1μm = 0,001mm)，通過這個狹縫，光到達衍射光柵的表面，這個光柵是凹面鋁盤，直徑為60mm（固定式）或者30mm（移動式），每毫米3600刻線！通過大量的光柵刻線，光被衍射，分解成不同波長的光，在焦點平面產(chǎn)生譜線，即光進入入射狹縫的圖示，這個狹縫在焦平面上顯示不同波長的光進入入射狹縫，結(jié)果就是光譜譜線。

相關(guān)合適的譜線需要一定的測量程序及光強的接收，光線通過出口狹縫，然后照射在光電倍增管上，根據(jù)樣品中元素的濃度，到達光電倍增管輻射的強度相應(yīng)的高或低。

生產(chǎn)過程中測量已知材料化學(xué)成份并產(chǎn)生的校正曲線，存儲在計算機，這些曲線對進一步分析未知材料的化學(xué)成份提供了重要信息，數(shù)據(jù)結(jié)果以百分比或者ppm顯示在顯示器上，也可顯示相應(yīng)的化學(xué)牌號。后，客戶可以把所有的分析數(shù)據(jù)存儲在電腦中，或者打印出來

Belec Compact Port移動式光譜儀技術(shù)參數(shù)

Belec Compact Port移動式光譜儀用于固體樣品元素定量分析的儀器。光學(xué)系統(tǒng)采用PMT檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。

Belec Compact Port移動式光譜儀技術(shù)參數(shù)

光學(xué)系統(tǒng)：

-帕邢-龍格結(jié)構(gòu)雙光譜室，

-光柵刻線3600線/mm

-羅蘭圓300 mm

-檢測器系統(tǒng)：PMT檢測器

-色散率：0,9 nm/mm（一級光譜）

-波長范圍：190-410nm/ 220 – 430 nm

-

探頭基本描述

低損耗鎢電極（氬氣火花探頭）

高效能銀電極（空氣火花探頭）

探頭鏈接系統(tǒng)

標準探頭

光源：

-火花激發(fā)源大頻率400Hz

-單極放電

-光源參數(shù)，點火頻率參數(shù)計算機控制

-點火電壓：20KV

電源：

220-240V/50-60Hz;

待機功率100W；

分析功率600W；

配備大容量充電電池

計算機及讀出系統(tǒng)(integrated hardware)

-Euro-Card格式模塊計算機系統(tǒng)，Windows XP操作系統(tǒng)，

-RAM > 512MB, 2 ¼” Hard Disc >60 GB, CPU>1.0GHz

-電池供電實時時鐘日期功能

-配備接口,USB, PS2,串口l, VGA,局域網(wǎng),并口

顯示屏

-內(nèi)置高清晰度10.4”液晶顯示器

-堅固耐用工業(yè)觸摸屏，防水防塵開合式集成鍵盤，易于操作

-

軟件

-BELEC WIN21光譜分析軟件，多任務(wù)操作：

-原材料分選

-多種PMI測試程序

-自動根據(jù)給定偏差和激發(fā)次數(shù)進行標定控制

-可選激發(fā)次數(shù)進行PMI測試

-根據(jù)設(shè)定數(shù)據(jù)進行電極清理

-對稱及不對稱偏差

-PMI元素顯示及相應(yīng)偏差

-檢測結(jié)果存儲及打印

-可自由編輯報告

-牌號鑒別

-每套曲線存儲超過300個牌號數(shù)據(jù)

-PMI測試中顯示牌號

-分析及搜索給出鑒定牌號

-定向分析（成分近似分析）

-分析程序無限制數(shù)量

-顯示光強值、強度比、再校準和校正強度比

-分析結(jié)果百分含量或ppm顯示

-1-2點曲線再校準

-相加和相乘的干擾校正

-基體校正

-自動選擇譜線

-任意激發(fā)次數(shù)的數(shù)據(jù)計算平均值、標準偏差及變異系數(shù)

-結(jié)果超出曲線范圍的標示

-樣品標識輸入

-分析數(shù)據(jù)可傳輸至外部計算機

-連接外部打印機及顯示器

-硬盤故障自診斷

-分析數(shù)據(jù)以Excel, ASCII等標準格式存儲

-曲線數(shù)量無限制

-譜圖對比鑒別牌號

西安賽普斯科學(xué)儀器有限公司銷售德國貝萊克 Belec Compact Port，針對德國貝萊克 Belec Compact Port客戶提供相關(guān)咨詢服務(wù)，需要了解德國貝萊克 Belec Compact Port型號尺寸、重量、價格、安裝、維護等資料請與我們聯(lián)系。

 

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