（ X 射線熒光光譜儀，測厚儀國外品牌代理）

• 規(guī)格：FISCHERSCOPE X-RAY
• 品牌：FISCHER
• 用途：適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn) 的零部件及印刷線路板。

（ X 射線熒光光譜儀，測厚儀國外品牌代理）

FISCHERSCOPE ® -X-RAY XDL ® 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光光譜儀。
它是從大眾認(rèn)可的 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代
相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)
的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本
參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析
和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XDL 型 X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
 全自動測量，如測量印刷線路板
 分析電鍍?nèi)芤?br />

設(shè)計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣
品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的 Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際
應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的 Z 軸系統(tǒng)
XDL220：平面樣品平臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)
XDL230：手動操作的 X-Y 樣品平臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)
XDL240：馬達(dá)驅(qū)動的 X-Y 樣品平臺，當(dāng)測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品
的位置；馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)，可編程運行，可用兩種速度運行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻
窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。配有手動或者馬達(dá)驅(qū)動 X-Y 樣品平臺的儀器
還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。

例如大型的線路板。

所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友
好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。

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